高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱為待測(cè)品靜態(tài)式冷﹑熱交替沖擊方式,該方法為現(xiàn)在先進(jìn)的高低溫沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測(cè)試,汽車(chē)零部件,半導(dǎo)體,電子線路板,金屬化學(xué),材料等測(cè)試設(shè)備.試驗(yàn)箱后部為低溫蓄冷區(qū),上部為高溫蓄熱區(qū),試件(待測(cè)品)放置在試驗(yàn)箱中部,高溫沖擊時(shí),上風(fēng)門(mén)打開(kāi),形成高溫內(nèi)循環(huán).低溫沖擊時(shí),上風(fēng)門(mén)關(guān)閉,下風(fēng)門(mén)打開(kāi),形成低溫內(nèi)循環(huán).該沖擊試驗(yàn)箱的最大特點(diǎn)是:試件(待測(cè)品)靜止不動(dòng)

產(chǎn)品型號(hào)：LWGDWCJ
更新時(shí)間：2025-05-05
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詳細(xì)介紹

品牌	聯(lián)往檢測(cè)	價(jià)格區(qū)間	10萬(wàn)-20萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車(chē)及零部件

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱為待測(cè)品靜態(tài)式冷﹑熱交替沖擊方式,該方法為現(xiàn)在先進(jìn)的高低溫沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測(cè)試,汽車(chē)零部件,半導(dǎo)體,電子線路板,金屬化學(xué),材料等測(cè)試設(shè)備.試驗(yàn)箱后部為低溫蓄冷區(qū),上部為高溫蓄熱區(qū),試件(待測(cè)品)放置在試驗(yàn)箱中部,高溫沖擊時(shí),上風(fēng)門(mén)打開(kāi),形成高溫內(nèi)循環(huán).低溫沖擊時(shí),上風(fēng)門(mén)關(guān)閉,下風(fēng)門(mén)打開(kāi),形成低溫內(nèi)循環(huán).該沖擊試驗(yàn)箱的最大特點(diǎn)是:試件(待測(cè)品)靜止不動(dòng),使用戶(hù)避免了因試件移動(dòng)帶來(lái)的諸多不便.

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T2423.22-93試驗(yàn)Na 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度沖擊試驗(yàn)

2.GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)方法

3.GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)方法

4. GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)

主要技術(shù)參數(shù)
型號(hào)	工作室（W×D×H（mm）	外型（約）（ W×D×H(mm）
LWGDWCJ-50	350×350×400	1600×1500×2000
LWGDWCJ-100	450×450×500	1700×1600×2100
LWGDWCJ-150	500×500×600	1750×1600×2100
LWGDWCJ-225	500×600×750	1800×2000×2100
LWGDWCJ-250	600×600×700	1900×2000×2100
LWGDWCJ-408	600×800×850	1900×2500×2150
LWGDWCJ-500	700×800×900	2000×2500×2150
LWGDWCJ-800	800×1000×1000	2100×2700×2200
LWGDWCJ-010	1000×1000×1000	3500×3500×2200
低溫室溫度范圍： RT～-70℃ 按要求定制
高溫室溫度范圍： RT～+200℃ 按要求定制
沖擊溫度范圍： -20℃ -40℃ -50℃ -60℃ （ +80 +120℃ +160℃）可以按照要求選定